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MINIX“明視”系(xi)列(lie)微焦點(dian)檢測系(xi)統
為(wei)精密制造技(ji)術質量控制而研制的(de)CWJ系(xi)列微焦點X射線(xian)檢測(ce)系(xi)統匯聚現(xian)代(dai)尖端(duan)的(de)檢測(ce)技(ji)術。
消除了普通射(she)線源因幾何不清晰度影響而給檢測細節帶(dai)來的不便,最大(da)放大(da)倍率可(ke)達300倍,最小探測能力可(ke)達0.5μm
“明視-MiniX”系列集成化小劑量X射線成像檢測儀秉承簡約、極致理念,為輕工、電子、食品等行業提供高效、可靠、安全、簡約的高性價比小劑量X射線檢測解決方案,最小檢測精度可達1微米,最高檢測效率優于2秒/件。
“明視”A、B型產品,專為工廠小型封裝器件檢驗而設計,X射線探傷采用垂直透照檢測方案,實現最快可達7秒/件的檢測效率,并以其突破性的性價比深受用戶青睞。
“明視”C型產品采用水平透照檢測方案,可完成活塞等小型工件的DR/CT檢測,也可配置微焦點射線源實現微焦點CT功能、即可滿足一線高效檢測需求,也可實現高級高精度工藝,質量分析。
“明視”D系列產品專為電池檢測設計,可完成不同要求的特定距離測量與判定,最高檢測效率可達30ppm。
“明視”S系列產品集成焦點10微米以下微焦點射線源,專為電子線路板,IC等產品高精度檢測而設計,并具有BGA焊球專用缺陷檢測功能。
“明視”T系列產品集成75微米以下微小焦點射線源及平板探測器,專為小型鑄件、教學產品演示等檢測而設計,體積小,便于移動,是一款物美價廉、性價比極高的理想產品。
應用范圍
1.電子元器件檢(jian)測(電容(rong)、電阻、二極管等)
2.PCB板(ban)焊(han)接檢測(ce)
3.IC封裝檢測(ce)
4.電(dian)纜芯檢測
5.電熱管(guan)、熔斷器內部金屬絲(si)檢(jian)測
6.輕質合金內(nei)部細小(xiao)缺陷檢測
7.筆記本(ben)、手(shou)機電池檢測(ce)
8.非金屬細小缺陷檢測
技術指標